GB/T 5170.10 環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第10部分：高低溫低氣壓試驗設(shè)備，國家推薦性標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T 5170.10-2017發(fā)行信息

標(biāo)準(zhǔn)號GB/T 5170.10-2017

中文名 環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第10部分:高低溫低氣壓試驗設(shè)備

英文名 Inspection methods for environmental testing equipments.Part 10:Combined high and low temperature/low air pressure testing equipments

發(fā)布日期2017-12-29

實施日期2018-07-01廢止日期

無中國標(biāo)準(zhǔn)分類號

K04國際標(biāo)準(zhǔn)分類號19.040

發(fā)布單位CN-GB

引用標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.21 GB/T 2423.25 GB/T 2423.26 GB/T 5170.1-2016 GB 12348-2008

被代替標(biāo)準(zhǔn)GB/T 5170.10-2008

GB/T 5170.10-2017適用范圍

GB/T 5170的本部分規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗設(shè)備(以下簡稱“設(shè)備”)的檢驗項目、檢驗用儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。 本部分適用于對GB/T 2423.21、GB/T 2423.25和GB/T 2423.26所用設(shè)備的檢驗。 本部分也適用于類似設(shè)備的檢驗。