1. 概述

隨著近年來LED光效的不斷提升，LED的壽命和可靠性越來越受到業(yè)界的重視，它是LED產(chǎn)品最重要的性能之一。壽命是可靠性的終極表現(xiàn)，然而LED的理論壽命很長，像傳統(tǒng)光源采用2h45min開、15min關(guān)的循環(huán)測試到壽命終了，對LED產(chǎn)品的測量顯然不現(xiàn)實。因此有必要對LED產(chǎn)品采用加速老化壽命試驗

2. LED可靠性和壽命相關(guān)的關(guān)鍵指標(biāo)

，同時，也應(yīng)當(dāng)測試LED的熱學(xué)特性、環(huán)境耐候性、電磁兼容抗擾度等與壽命和可靠性密切相關(guān)的性能，以綜合分析LED的壽命。

2. LED可靠性和壽命相關(guān)的關(guān)鍵指標(biāo)

LED產(chǎn)品制造中的每一個元件和環(huán)節(jié)都會對其可靠性和壽命產(chǎn)生影響，例如，LED結(jié)和基板的虛焊、LED熒光粉的熱猝滅和退化、封裝材料的退化以及驅(qū)動器的失效等，最后退化的可能才是半導(dǎo)體(PN結(jié))本身。這些因素導(dǎo)致LED產(chǎn)品失效(退化)的方式也不盡相同，一般可分為緩變退化(gradual degradation)和瞬變退化(abrupt degradation)。

LED的緩變退化(失效)指標(biāo)主要包括：

流明維持率下降，即光衰，一般以初始光通量為100%，當(dāng)LED產(chǎn)品的流明維持率下降到初始值的70%或50%時，認(rèn)為LED失效，流明維持壽命相應(yīng)記為L50或L70;

顏色漂移，受到熒光粉或封裝材料的變化，LED的顏色會在壽命期間內(nèi)發(fā)生漂移，該漂移應(yīng)在指定范圍以內(nèi)(如△u’v’≤0.007)，超過范圍則視為LED失效;

電性能變化，電性能變化能更為直觀地監(jiān)測;

開關(guān)次數(shù)，開關(guān)可能會對驅(qū)動等電路產(chǎn)生一定影響;

熱阻變化和其它熱特性參數(shù)曲線，熱特性與壽命息息相關(guān)，對熱特性的測量和分析有助于找出LED可靠性的薄弱環(huán)節(jié);

LED的瞬變退化(失效)即LED的光輸出突然降為0，其主要退化包括：抗電磁干擾能力：靜電放電、雷擊浪涌、快速群脈沖、周波跌落;高低溫沖擊耐受性特性;鹽霧、耐濕、振動等。

3. 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求

針對LED的主要緩變退化，國際上已有相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)相繼發(fā)布，以是北美體系和國際照明委員會(IEC)體系最為典型，我國標(biāo)準(zhǔn)則基本融合了這兩個體系。

ENERGY STAR? Program Requirements Product Specification ELigibility Criteria ;

IES LM-80-08 Approved Method for Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources;

IES TM-21-11 Projecting Long Term Lumen Maintenance of LED Packages

IEC/PAS 62717 LED modules for general lighting – Performance requirements‘

 EC/PAS 62722-2-1 Luminaire Performance –Part 2-1: Particular requirements for LED luminaires

我國的GB/T 24824、GB/T24823、QB/T4057等

我國的GB/T XXXX LED加速壽命試驗方法(尚未發(fā)布)

3. 北美體系和IEC系統(tǒng)對LED壽命和壽命試驗方法的要求

北美體系和IEC系統(tǒng)在對LED產(chǎn)品的壽命要求和試驗方法方面都有所區(qū)別，但針對于LED燈具壽命的評估，二者都提出直接老化測試燈具，或根據(jù)封裝LED、LED模塊等的老化試驗進(jìn)行推算。

3.1 北美體系

如表1所示，Energy Star將對LED燈具壽命的試驗方法分為選項1和選項2，其中，選項1是通過測試光源推導(dǎo)燈具的壽命;而選項2僅適用于光源和燈具不可分的一體化燈具，直接測試燈具的光通維持率。選項1，L70(6k)的表示是指，利用6000h(6K)的老化測試推導(dǎo)出的流明維持壽命L70的時間。

現(xiàn)對LM-80 和TM-21兩個標(biāo)準(zhǔn)的要求總結(jié)如下：

適用范圍：LED封裝、模塊、陣列等;

考察對象：只考察光通維持壽命，即緩變失效因素

老化溫度：指定點殼溫(Ts)為55℃，85℃和第三個指定溫度，三個溫度覆蓋燈具中LED光源的Ts溫度。

老化時間：6000h，推薦10000h;

樣本數(shù)量要求及其與外推壽命時間的關(guān)系：20個以上樣品，外推壽命最高為老化時間的6倍;10-19個，外推壽命最高為老化時間的5.5倍;

光色參數(shù)測試時間：至少每1000h測量一次;

對突然失效的處理：觀察記錄，調(diào)查確認(rèn)突然失效是因為光源本身原因;

記錄顏色衰變：有;

數(shù)據(jù)記錄：每個LED的光通維持、中間值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、最小和最大光通維持率值;

曲線擬合：1. 以初始值為1，歸一化光通維持率;

2. 在每個測量點，求得測試樣品歸一值的平均值;

3. 數(shù)據(jù)要求：不采用小于1000h內(nèi)的測量數(shù)據(jù);老化6000h-10000h，至少用5000h的數(shù)據(jù);大于10000h，用最后50%的數(shù)據(jù)。

外推計算：推薦指數(shù)模型。

3.2 IEC體系

IEC體系中用Lx Fy 來表征LED產(chǎn)品的壽命，其中，Lx表示光通量維持率，如L70;Fy表示失效率，包括緩變失效率By和瞬變失效率Cy。例如：L70F50為30000h是指：50%的模塊在30000h后的光通維持率在70%以下。

對于普通照明用的白光LED產(chǎn)品，IEC并不強(qiáng)調(diào)對聲稱的壽命進(jìn)行驗證，而是對限定時間的流明維持率進(jìn)行分級。

IEC 中對LED模塊和燈具的光通維持率測試如表2所示。特別注意的是IEC體系中，LED模塊或燈具的瞬變失效和緩變失效是要在最終的Fy指標(biāo)上體現(xiàn)出來的。對于一組LED模塊，按試驗樣品20個計算，若聲稱F50，則至少n-2個模塊通過;若聲稱F10，則n個模塊全部通過試驗。

老化試驗中的溫度也特別值得關(guān)注。LED模塊老化應(yīng)在外殼指定點為Tp溫度下老化，相當(dāng)于北美體系中的Ts;而燈具則在環(huán)境溫度Tq下考察其性能，并且應(yīng)確保在聲稱的Tq max下， 模塊溫度Tp不會超過。

4. 加速老化和壽命測試系統(tǒng)

對于加速老化和壽命的測試，無論采用北美體系或IEC體系，其硬件測量裝置基本相同，一般主要包括恒溫試驗箱、多路電源、多路溫度巡檢儀等。目前國內(nèi)外對于LED加速老化和壽命測試系統(tǒng)的研制也十分關(guān)注。由于LED光源或燈具的光色性能需在室溫(25℃±1℃)條件下測量，因此國外典型設(shè)備一般需要和積分球光譜儀系統(tǒng)結(jié)合起來，在LED老化到一定時間后冷卻恒溫箱內(nèi)溫度，并將被測LED取出到積分球系統(tǒng)中進(jìn)行光色測量。該操作過程很繁瑣，若測試間隔時間較短，則整個老化測試十分費時費力，而當(dāng)測試間隔較長是，則不能及時反映LED光色參數(shù)的變化過程，被測LED的失效時間的記錄誤差較大。

加速老化測試包括戶外暴曬老化測試和實驗室加速老化測試，其中常見的儀器包括Q-SUN氙燈老化試驗箱以及QUV紫外老化試驗箱等

在我國863計劃課題的支持下，杭州遠(yuǎn)方光電通過自主創(chuàng)新，開發(fā)了即加速老化和光色測試于一體的測試系統(tǒng)，如圖1所示為系統(tǒng)照片。系統(tǒng)具備90個功位，可分三溫區(qū)同時老化測試90個被測LED(30個×3)，其結(jié)構(gòu)主要特點是在恒溫箱中設(shè)置光信號取樣裝置，并與光色測量設(shè)備相連，被測LED的光色參數(shù)可在箱內(nèi)直接而不需要取出測量，可全自動實現(xiàn)老化測試以及數(shù)據(jù)分析。使得原本漫長而繁復(fù)的LED老化、壽命試驗和溫度試驗變得十分的簡單與輕松，數(shù)據(jù)更為精確可靠。設(shè)備含有多項遠(yuǎn)方公司獨有的專利技術(shù)，整個設(shè)備設(shè)計整體性好，美觀大方，無論是使用者還是評估者，無論是內(nèi)在還是外觀，都會讓人信服。

利用上述測量裝置，還可在不同的環(huán)境溫度下(高溫狀態(tài))，測量被測LED的光色度，獲得LED光度-環(huán)境溫度曲線(溫度特性試驗)。圖2為典型的LED 相對光通量隨環(huán)境溫度的變化曲線，滿足IES LM-82-11

3. 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求

以及關(guān)于CFL

3. 北美體系和IEC系統(tǒng)對LED壽命和壽命試驗方法的要求

的國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)的要求。

5. 小結(jié)

影響LED產(chǎn)品壽命和可靠性的因素有很多，相關(guān)的測試也較為復(fù)雜，其中最重要的是光通維持率測試，雖然已出臺的國際標(biāo)準(zhǔn)要求不盡相同，但基本的試驗方法和裝置要求基本相同。在國家863課題的支持下，我國已自主開發(fā)了具有高智能化的加速老化和壽命測試系統(tǒng)，使我國工業(yè)界能夠進(jìn)行操作簡便、高精度、低成本的光通維持壽命檢測，同時該系統(tǒng)還可測試光色參數(shù)隨環(huán)境溫度變化的曲線，滿足最新國際標(biāo)準(zhǔn)要求即發(fā)展趨勢。此外，我國在LED的熱電光綜合分析系統(tǒng)和電磁兼容測試等方面也取得了諸多突破，建立了LED可靠性預(yù)測機(jī)制及BP(Back Propagation)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型

3.1 北美體系

，為更全面地考察LED的壽命和可靠性提供了技術(shù)支持和裝備保障。

參考文獻(xiàn)

2. LED可靠性和壽命相關(guān)的關(guān)鍵指標(biāo)

H.Shen, J.Pan, H.Feng. Accelerated life test for high-power white LED based on spectroradiometric measurement. SPIE Photonics Asia 2007,Beijing, 2007.

3. 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求

IES Approved Method for the Characterization of LED Light Engines and LED Lamps for Electrical and Photometric Properties as a Function of Temperature

3. 北美體系和IEC系統(tǒng)對LED壽命和壽命試驗方法的要求

ENERGY STAR? Program Requirements for CFLs ENERGY STAR Eligibility Criteria Energy-Efficiency Criteria – Version 4.3

3.1 北美體系

沈海平，大功率LED 可靠性預(yù)測機(jī)制研究，博士畢業(yè)論文，2008.